文献
J-GLOBAL ID:201702220352187684
整理番号:17A1724548
深さ皮質測定からの欠神てんかん発作の特性化【Powered by NICT】
Characterizing absence epileptic seizures from depth cortical measurements
著者 (6件):
Akhavan S.
(GIPSA-LAB, University Grenoble-Alpes, Grenoble, France)
,
Phlypo R.
(GIPSA-LAB, University Grenoble-Alpes, Grenoble, France)
,
Soltanian-Zadeh H.
(University of Tehran, Tehran, Iran)
,
Studer F.
(INSERM U1216, Grenoble Institut des Neurosciences, Grenoble, France)
,
Depaulis A.
(INSERM U1216, Grenoble Institut des Neurosciences, Grenoble, France)
,
Jutten C.
(GIPSA-LAB, University Grenoble-Alpes, Grenoble, France)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
EUSIPCO
ページ:
444-448
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)