文献
J-GLOBAL ID:201702220363782215
整理番号:17A1036805
キーノート:ICのための統合設計のための信頼性【Powered by NICT】
Key note: Integrated design-for-reliability for ICs
著者 (6件):
Wang Albert
(Dept. of ECE, University of California, Riverside, CA, USA)
,
Lu Fei
(Dept. of ECE, University of California, Riverside, CA, USA)
,
Chen Qi
(Dept. of ECE, University of California, Riverside, CA, USA)
,
Wang Chenkun
(Dept. of ECE, University of California, Riverside, CA, USA)
,
Li Cheng
(Dept. of ECE, University of California, Riverside, CA, USA)
,
Zhang Feilong
(Dept. of ECE, University of California, Riverside, CA, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
LASCAS
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)