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文献
J-GLOBAL ID:201702220582697466   整理番号:17A0955208

接合をもたない全周ゲート型多結晶シリコン薄膜トランジスタの温度およびドーピング濃度に依存する特性

Temperature- and doping-concentration-dependent characteristics of junctionless gate-all-around polycrystalline-silicon thin-film transistors
著者 (4件):
TSO Chia-Tsung
(National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)
LIU Tung-Yu
(National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)
PAN Fu-Ming
(National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)
SHEU Jeng-Tzong
(National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)

巻: 56  号: 4S  ページ: 04CD14.1-04CD14.5  発行年: 2017年04月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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