文献
J-GLOBAL ID:201702220716940456
整理番号:17A1771885
視覚理解のための深いメトリック学習:最近の進歩の概観【Powered by NICT】
Deep Metric Learning for Visual Understanding: An Overview of Recent Advances
著者 (3件):
Lu Jiwen
(Department of Automation, Tsinghua University, Beijing, 100084, China)
,
Hu Junlin
(School of Electrical and Electronic Engineering , Nanyang Technological University, 637553, Singapore)
,
Zhou Jie
(Department of Automation, Tsinghua University, Beijing, 100084, China)
資料名:
IEEE Signal Processing Magazine
(IEEE Signal Processing Magazine)
巻:
34
号:
6
ページ:
76-84
発行年:
2017年
JST資料番号:
H0928A
ISSN:
1053-5888
CODEN:
ISPRE6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)