文献
J-GLOBAL ID:201702221050256643
整理番号:17A1026006
SiC MOSFETにおけるオンライン劣化検出のための方法【Powered by NICT】
A method for online ageing detection in SiC MOSFETs
著者 (2件):
Erturk Feyzullah
(Department of Electrical Engineering, The University of Texas at Dallas, TX, USA)
,
Akin Bilal
(Department of Electrical Engineering, The University of Texas at Dallas, TX, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
APEC 2017
ページ:
3576-3581
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)