文献
J-GLOBAL ID:201702221203540545
整理番号:17A0825223
市販MOSFET SEE認定における応答変動性【Powered by NICT】
Response Variability in Commercial MOSFET SEE Qualification
著者 (11件):
George J. S.
(The Aerospace Corporation, El Segundo, CA, USA)
,
Clymer D. A.
(Lockheed Martin Corporation, Littleton, CO, USA)
,
Turflinger T. L.
(The Aerospace Corporation, El Segundo, CA, USA)
,
Mason L. W.
(Lockheed Martin Corporation, Littleton, CO, USA)
,
Stone S.
(Lockheed Martin Corporation, Littleton, CO, USA)
,
Koga R.
(The Aerospace Corporation, El Segundo, CA, USA)
,
Beach E.
(Lockheed Martin Corporation, Littleton, CO, USA)
,
Huntington K.
(Lockheed Martin Corporation, Littleton, CO, USA)
,
Lauenstein J.-M.
(NASA GSFC, Greenbelt, MD, USA)
,
Titus J.
(NAVSEA Crane, Crane, IN, USA)
,
Sivertz M.
(NASA Space Radiation Laboratory, Brookhaven National Laboratory, Upton, NY, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
64
号:
1
ページ:
317-324
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)