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文献
J-GLOBAL ID:201702221203540545   整理番号:17A0825223

市販MOSFET SEE認定における応答変動性【Powered by NICT】

Response Variability in Commercial MOSFET SEE Qualification
著者 (11件):
George J. S.
(The Aerospace Corporation, El Segundo, CA, USA)
Clymer D. A.
(Lockheed Martin Corporation, Littleton, CO, USA)
Turflinger T. L.
(The Aerospace Corporation, El Segundo, CA, USA)
Mason L. W.
(Lockheed Martin Corporation, Littleton, CO, USA)
Stone S.
(Lockheed Martin Corporation, Littleton, CO, USA)
Koga R.
(The Aerospace Corporation, El Segundo, CA, USA)
Beach E.
(Lockheed Martin Corporation, Littleton, CO, USA)
Huntington K.
(Lockheed Martin Corporation, Littleton, CO, USA)
Lauenstein J.-M.
(NASA GSFC, Greenbelt, MD, USA)
Titus J.
(NAVSEA Crane, Crane, IN, USA)
Sivertz M.
(NASA Space Radiation Laboratory, Brookhaven National Laboratory, Upton, NY, USA)

資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)

巻: 64  号:ページ: 317-324  発行年: 2017年 
JST資料番号: C0235A  ISSN: 0018-9499  CODEN: IETNAE  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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