文献
J-GLOBAL ID:201702221235891795
整理番号:17A1643580
一般化Debye源に基づくEFIEを解くための細分割表面技術の利用【Powered by NICT】
Using subdivision surface technique to solve generalized debye sources based EFIE
著者 (4件):
Fu Xin
(Dept. of Electronic and Electrical Engineering, The University of Hong Kong, Pokfulam, Hong Kong, China)
,
Jiang Li Jun
(Dept. of Electronic and Electrical Engineering, The University of Hong Kong, Pokfulam, Hong Kong, China)
,
Li Jie
(Dept. of Electrical and Computer Science, Michigan State University, East Lansing, MI, USA)
,
Shanker Balasubramaniam
(Dept. of Electrical and Computer Science, Michigan State University, East Lansing, MI, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
APUSNCURSINRSM
ページ:
121-122
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)