文献
J-GLOBAL ID:201702221407369677
整理番号:17A1544933
拡散面内薄膜非晶質薄膜におけるバリスティック面外熱輸送まで【Powered by NICT】
From diffusive in-plane to ballistic out-of-plane heat transport in thin non-crystalline films
著者 (4件):
Heiderhoff R.
(University of Wuppertal, Institute of Electronic Devices, Rainer-Gruenter-Str. 21, 42119 Wuppertal, Germany)
,
Haeger T.
(University of Wuppertal, Institute of Electronic Devices, Rainer-Gruenter-Str. 21, 42119 Wuppertal, Germany)
,
Dawada K.
(University of Wuppertal, Institute of Electronic Devices, Rainer-Gruenter-Str. 21, 42119 Wuppertal, Germany)
,
Riedl T.
(University of Wuppertal, Institute of Electronic Devices, Rainer-Gruenter-Str. 21, 42119 Wuppertal, Germany)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
76-77
ページ:
222-226
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)