文献
J-GLOBAL ID:201702221464077358
整理番号:17A0662096
アナログ電子回路の診断と予測のための信号モデルベース故障符号化【Powered by NICT】
Signal Model-Based Fault Coding for Diagnostics and Prognostics of Analog Electronic Circuits
著者 (6件):
Liu Zhenbao
(Northwestern Polytechnical University, Xi’an, China)
,
Liu Taimin
(Northwestern Polytechnical University, Xi’an, China)
,
Han Junwei
(Northwestern Polytechnical University, Xi’an, China)
,
Bu Shuhui
(Northwestern Polytechnical University, Xi’an, China)
,
Tang Xiaojun
(Northwestern Polytechnical University, Xi’an, China)
,
Pecht Michael
(Center for Advanced Life Cycle Engineering, University of Maryland, College Park, MD, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Industrial Electronics
(IEEE Transactions on Industrial Electronics)
巻:
64
号:
1
ページ:
605-614
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0234A
ISSN:
0278-0046
CODEN:
ITIED6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)