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J-GLOBAL ID：201702221585976667 整理番号：17A1139536

4H-SiCにおける<c+a>貫通混合転位のX線トポグラフィー及び透過型電子顕微鏡分析

X-ray Topography and Transmission Electron Microscopy Analysis of <c + a> Threading Mixed Dislocations in 4H-SiC

著者 (4件)：

HADORN Jason Paul

(CRIEPI)

TANUMA Ryohei

(CRIEPI)

KAMATA Isaho

(CRIEPI)

TSUCHIDA Hidekazu

(CRIEPI)

資料名：

応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM) (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))

巻： 78th ページ： ROMBUNNO.6p-A201-3 発行年： 2017年08月25日
JST資料番号： Y0055B ISSN： 2758-4704 資料種別：会議録 (C)
記事区分：短報発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

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