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文献
J-GLOBAL ID：201702221690069582
整理番号：17A1267962
残留電流素子の低周波トリッピング特性【Powered by NICT】
Low-frequency tripping characteristics of residual current devices
Czapp Stanislaw
(Faculty of Electrical and Control Engineering, Gdansk University of Technology, Gdansk, Poland)
,
Dobrzynski Krzysztof
(Faculty of Electrical and Control Engineering, Gdansk University of Technology, Gdansk, Poland)
,
Klucznik Jacek
(Faculty of Electrical and Control Engineering, Gdansk University of Technology, Gdansk, Poland)
,
Lubosny Zbigniew
(Faculty of Electrical and Control Engineering, Gdansk University of Technology, Gdansk, Poland)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： EEEIC / I&CPS Europe ページ： 1-4 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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