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文献
J-GLOBAL ID：201702221721754003
整理番号：17A0749540
超臨界レンズ光ラベルフリー顕微鏡検査法:サブ回折分解能と超長作動距離【Powered by NICT】
A Supercritical Lens Optical Label-Free Microscopy: Sub-Diffraction Resolution and Ultra-Long Working Distance
Qin Fei
(Department of Electrical and Computer Engineering, National University of Singapore, 4 Engineering Drive 3, Singapore, 117583, Singapore)
,
Huang Kun
(Institute of Materials Research and Engineering, Agency for Science Technology and Research (A*STAR), 2 Fusionopolis Way, Innovis, #08-03, Singapore, 138634, Singapore)
,
Wu Jianfeng
(Department of Electrical and Computer Engineering, National University of Singapore, 4 Engineering Drive 3, Singapore, 117583, Singapore)
,
Wu Jianfeng
(Department of Physics, National University of Singapore, 2 Science Drive 3, Singapore, 117542, Singapore)
,
Teng Jinghua
(Institute of Materials Research and Engineering, Agency for Science Technology and Research (A*STAR), 2 Fusionopolis Way, Innovis, #08-03, Singapore, 138634, Singapore)
,
Qiu Cheng-Wei
(Department of Electrical and Computer Engineering, National University of Singapore, 4 Engineering Drive 3, Singapore, 117583, Singapore)
,
Hong Minghui
(Department of Electrical and Computer Engineering, National University of Singapore, 4 Engineering Drive 3, Singapore, 117583, Singapore)
資料名：
Advanced Materials
(Advanced Materials)
巻： 29 号： 8 ページ： ROMBUNNO.201602721 発行年： 2017年
JST資料番号： W0001A ISSN： 0935-9648 CODEN： ADVMEW 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： ドイツ (DEU) 言語： 英語 (EN)
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