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文献
J-GLOBAL ID：201702222001315303
整理番号：17A0400503
NBTI反応拡散とトラッピング/デトラッピングモデルのための解析的パラメータ抽出【Powered by NICT】
Analytical parameter extraction for NBTI reaction diffusion and trapping/detrapping models
Wang YanLing
(Department of Electronics Engineering, Shanghai Key Laboratory of Multidimensional Information Processing, East China Normal University, Shanghai, China)
,
Li XiaoJin
(Department of Electronics Engineering, Shanghai Key Laboratory of Multidimensional Information Processing, East China Normal University, Shanghai, China)
,
Qing Jian
(Department of Electronics Engineering, Shanghai Key Laboratory of Multidimensional Information Processing, East China Normal University, Shanghai, China)
,
Zeng Yan
(Department of Electronics Engineering, Shanghai Key Laboratory of Multidimensional Information Processing, East China Normal University, Shanghai, China)
,
Shi YanLing
(Department of Electronics Engineering, Shanghai Key Laboratory of Multidimensional Information Processing, East China Normal University, Shanghai, China)
,
Guo Ao
(Shanghai Integrated Circuit Research & Development Center, Shanghai, China)
,
Hu ShaoJian
(Shanghai Integrated Circuit Research & Development Center, Shanghai, China)
,
Chen Shoumian
(Shanghai Integrated Circuit Research & Development Center, Shanghai, China)
,
Zhao Yuhang
(Shanghai Integrated Circuit Research & Development Center, Shanghai, China)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 66 ページ： 10-15 発行年： 2016年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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