文献
J-GLOBAL ID:201702222003597292
整理番号:17A0887164
ナノ繊維材料のSEM画像における欠陥検出【Powered by NICT】
Defect Detection in SEM Images of Nanofibrous Materials
著者 (4件):
Carrera Diego
(Dipartimento di Elettronica, Informazione e Bioingegneria, Politecnico di Milano, Milan, Italy)
,
Manganini Fabio
(Istituto di Matematica Applicata e Tecnologie Informatiche, Consiglio Nazionale delle Ricerche, Milan, Italy)
,
Boracchi Giacomo
(Dipartimento di Elettronica, Informazione e Bioingegneria, Politecnico di Milano, Milan, Italy)
,
Lanzarone Ettore
(Istituto di Matematica Applicata e Tecnologie Informatiche, Consiglio Nazionale delle Ricerche, Milan, Italy)
資料名:
IEEE Transactions on Industrial Informatics
(IEEE Transactions on Industrial Informatics)
巻:
13
号:
2
ページ:
551-561
発行年:
2017年
JST資料番号:
W1434A
ISSN:
1551-3203
CODEN:
ITIICH
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)