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J-GLOBAL ID：201702222523754815 整理番号：17A0451497

その場X線回折からの定量化された誘電特性への180°分域壁運動の寄与【Powered by NICT】

The contribution of 180° domain wall motion to dielectric properties quantified from in situ X-ray diffraction

著者 (11件)：

Fancher C.M.

(Department of Materials Science and Engineering, North Carolina State University, Raleigh, NC, USA)

Brewer S.

(G.W. Woodruff School of Mechanical Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA)

Chung C.C.

(Department of Materials Science and Engineering, North Carolina State University, Raleigh, NC, USA)

Rohrig S.

(Materials Center Leoben Forschung GmbH, Leoben, Austria)

Rojac T.

(Jozef Stefan Institute, Ljubljana, Slovenia)

Esteves G.

(Department of Materials Science and Engineering, North Carolina State University, Raleigh, NC, USA)

Deluca M.

(Materials Center Leoben Forschung GmbH, Leoben, Austria)

Deluca M.

(Institut fuer Struktur- und Funktionskeramik, Montanuniversitaet Leoben, Leoben, Austria)

Bassiri-Gharb N.

(G.W. Woodruff School of Mechanical Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA)

Bassiri-Gharb N.

(School of Materials Science and Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA)

Jones J.L.

(Department of Materials Science and Engineering, North Carolina State University, Raleigh, NC, USA)

資料名：

Acta Materialia (Acta Materialia)

巻： 126 ページ： 36-43 発行年： 2017年
JST資料番号： A0316A ISSN： 1359-6454 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

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