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文献
J-GLOBAL ID：201702222746678601
整理番号：17A0968781
アナログCMOS回路における同時に発生するパラメータの軟短と局所変動の診断【Powered by NICT】
Diagnosis of a soft short and local variations of parameters occurring simultaneously in analog CMOS circuits
Tadeusiewicz Michal
(Department of Electrical, Electronic, Computer and Control Engineering, Lodz University of Technology, Stefanowskiego 18/22, 90-924 Lodz, Poland)
,
Halgas Stanislaw
(Department of Electrical, Electronic, Computer and Control Engineering, Lodz University of Technology, Stefanowskiego 18/22, 90-924 Lodz, Poland)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 72 ページ： 90-97 発行年： 2017年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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