文献
J-GLOBAL ID:201702222813793055
整理番号:17A1774613
単一および多重短絡条件の平面およびトレンチSiC MOSFETの故障モード【Powered by NICT】
Failure modes of planar and trench SiC MOSFETs under single and multiple short circuits conditions
著者 (2件):
Pappis Douglas
(University of Kassel, Wilhelmshoeher Alle 71, Kassel, Germany)
,
Zacharias Peter
(University of Kassel, Wilhelmshoeher Alle 71, Kassel, Germany)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
EPE’17 ECCE Europe
ページ:
P.1-P.11
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)