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文献
J-GLOBAL ID：201702223138783754
整理番号：17A1033484
極低温でのSOI構造の変形特性【Powered by NICT】
Deformation characteristics of SOI structures at cryogenic temperatures
Druzhinin A.
(Department of semiconductor electronics, Lviv Polytechnic National University, Lviv, Ukraine)
,
Khoverko Yu.
(Department of semiconductor electronics, Lviv Polytechnic National University, Lviv, Ukraine)
,
Kogut I.
(Department of Computer Engineering and Electronics, Vasyl Stefanyk Precarpathian National University, Ivano-Frankivsk, Ukraine)
,
Holota V.
(Department of Computer Engineering and Electronics, Vasyl Stefanyk Precarpathian National University, Ivano-Frankivsk, Ukraine)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： ELNANO ページ： 92-95 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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