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文献
J-GLOBAL ID：201702223269463423
整理番号：17A0914737
亀裂のある多層超伝導薄膜における遮蔽電流解析:j_Cを測定するための非接触法への応用【Powered by NICT】
Shielding current analysis in multiple-layered superconducting film with cracks: Application to contactless method for measuring jC
Takayama Teruou
(Department of Informatics, Yamagata University, Yonezawa, Yamagata 992-8510)
,
Saitoh Ayumu
(Graduate School of Science and Engineering, Yamagata University, Yonezawa, Yamagata 992-8510)
,
Kamitani Atsushi
(Graduate School of Science and Engineering, Yamagata University, Yonezawa, Yamagata 992-8510)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： ICCEM ページ： 198-200 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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