文献
J-GLOBAL ID:201702223488458864
整理番号:17A1651005
ポストシリコン検証とデバッグの最近の動向:概観【Powered by NICT】
Recent trends on Post-Silicon validation and debug: An overview
著者 (2件):
Agalya R
(School of Computing, SASTRA University, Thanjavur, Tamilnadu. India)
,
Saravanan S
(School of Computing, SASTRA University, Thanjavur, Tamilnadu. India)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
NetACT
ページ:
56-63
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)