文献
J-GLOBAL ID:201702223847160996
整理番号:17A1259670
リモートセンシング画像のための深い残留学習はpansharpening【Powered by NICT】
Deep residual learning for remote sensed imagery pansharpening
著者 (2件):
Wei Yancong
(State Key Laboratory of Information Engineering, Survey Mapping And Remote Sensing, Wuhan University, Wuhan, China)
,
Yuan Qiangqiang
(School of Geodesy and Geomatics, Wuhan University, Wuhan, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
RSIP
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)