文献
J-GLOBAL ID:201702223869694440
整理番号:17A0741449
サブ細孔膜の集束イオンビームを用いた作成と電気インピーダンスによる特性評価
Focused Ion Beam-Based Fabrication and Electrical Impedance Characterization of Sub-Micropore Membrane
著者 (5件):
KIM Yuntae
(Gachon Univ., Incheon, KOR)
,
CHOI Yoon
(A-Tech System, Incheon, KOR)
,
JEON Minseok
(Korea Testing Lab., Seoul, KOR)
,
MIN Junhong
(Chung-Ang Univ., Seoul, KOR)
,
CHO Sungbo
(Gachon Univ., Incheon, KOR)
資料名:
Journal of Nanoscience and Nanotechnology
(Journal of Nanoscience and Nanotechnology)
巻:
16
号:
11
ページ:
11928-11932
発行年:
2016年11月
JST資料番号:
W1351A
ISSN:
1533-4880
CODEN:
JNNOAR
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)