文献
J-GLOBAL ID:201702224200684492
整理番号:17A1273964
最適化に基づく逆有限要素解析を用いたILD積層における金属薄膜の降伏強さの推定【Powered by NICT】
Estimating the yield strength of metal films in ILD stacks using optimization-based inverse finite element analysis
著者 (4件):
Chen Chun-Pei
(School of Mechanical Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, USA)
,
Subbarayan Ganesh
(School of Mechanical Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, USA)
,
Lin Hung-Yun
(Texas Instruments Inc., Dallas, TX 75243, USA)
,
Gurrum Siva
(Texas Instruments Inc., Dallas, TX 75243, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ITherm
ページ:
1409-1415
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)