文献
J-GLOBAL ID:201702224291083934
整理番号:17A1036297
欠陥クラスタTDDBにおける2段階確率プロットによる寿命解析に関する打ち切りの影響【Powered by NICT】
Impacts of censoring on lifetime analysis by two-step probability plot in defect clustered TDDB
著者 (1件):
Yokogawa Shinji
(Info-powered Energy System Research Center, The University of Electro-communications, Tokyo, Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IRPS
ページ:
DG-3.1-DG-3.6
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)