文献
J-GLOBAL ID:201702224719656782
整理番号:17A0499747
斜方晶系SrVO3薄膜における電子物性および電子構造/原子構造面に対する機構的洞察: XANES-EXAFSによる研究
Mechanistic insights on the electronic properties and electronic/atomic structure aspects in orthorhombic SrVO3 thin films: XANES-EXAFS study
著者 (7件):
Sharma Aditya
(Advance Analysis Centre, Korea Institute of Science and Technology (KIST), Seoul - 02792, Seoul, South Korea. sowon@kist.re.kr khchae@kist.re.kr)
,
Varshney Mayora
,
Cheol Lim Weon
,
Shin Hyun-Joon
,
Pal Singh Jitendra
,
Ok Won Sung
,
Hwa Chae Keun
資料名:
Physical Chemistry Chemical Physics
(Physical Chemistry Chemical Physics)
巻:
19
号:
9
ページ:
6397-6405
発行年:
2017年
JST資料番号:
A0271C
ISSN:
1463-9076
CODEN:
PPCPFQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)