文献
J-GLOBAL ID:201702224799989488
整理番号:17A1774624
インピーダンスモデルパラメータ化によるNMC/LTO細胞の老化解析【Powered by NICT】
Aging analysis of a NMC/LTO cell by impedance model parametrization
著者 (5件):
Giger Christoph
(Bern University of Applied Sciences / BFH-CSEM Energy Storage Research Centre, Aarbergstrasse 5, 2560 Nidau, Switzerland)
,
Lauber Ludovic
(Bern University of Applied Sciences / BFH-CSEM Energy Storage Research Centre, Aarbergstrasse 5, 2560 Nidau, Switzerland)
,
Khare Neeta
(Bern University of Applied Sciences / BFH-CSEM Energy Storage Research Centre, Aarbergstrasse 5, 2560 Nidau, Switzerland)
,
Santis Alejandro
(Bern University of Applied Sciences / BFH-CSEM Energy Storage Research Centre, Aarbergstrasse 5, 2560 Nidau, Switzerland)
,
Vezzini Andrea
(Bern University of Applied Sciences / BFH-CSEM Energy Storage Research Centre, Aarbergstrasse 5, 2560 Nidau, Switzerland)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
EPE’17 ECCE Europe
ページ:
P.1-P.16
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)