文献
J-GLOBAL ID:201702225106642286
整理番号:17A1507938
ピペット予測を利用した走査型イオンコンダクタンス顕微鏡イメージング速度を改善するための新しい走査モード【Powered by NICT】
A new scanning mode to improve scanning ion conductance microscopy imaging rate with pipette predicted movement
著者 (6件):
Zhuang Jian
(Key Laboratory of Education Ministry for Modern Design Rotor-Bearing System, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China)
,
Zhuang Jian
(School of Mechanical Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China)
,
Jiao Yangbohan
(Key Laboratory of Education Ministry for Modern Design Rotor-Bearing System, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China)
,
Jiao Yangbohan
(School of Mechanical Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China)
,
Mugabo Vincent
(Key Laboratory of Education Ministry for Modern Design Rotor-Bearing System, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China)
,
Mugabo Vincent
(School of Mechanical Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China)
資料名:
Micron
(Micron)
巻:
101
ページ:
177-185
発行年:
2017年
JST資料番号:
E0318E
ISSN:
0968-4328
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)