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文献
J-GLOBAL ID：201702225276369056
整理番号：17A0145937
電子機器健康診断における動的Bayesネットワーク【Powered by NICT】
Dynamic Bayesian networks in electronic equipment health diagnosis
Xie Hongwei
(School of Reliability and System Engineering, Beihang University, Beijing, China)
,
Shi Junyou
(School of Reliability and System Engineering, Beihang University, Beijing, China)
,
Lu Wang
(Aircraft Maintenance & Engineering Corporation Beijing. China)
,
Cui Weiwei
(China Academy of Launch Vehicle Technology)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： PHM (Chengdu) ページ： 1-6 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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