文献
J-GLOBAL ID:201702225354768324
整理番号:17A0968835
非破壊テラヘルツ検査システムを用いた低レベルの孔隙率構造の測定【Powered by NICT】
Measuring low-level porosity structures by using a non-destructive terahertz inspection system
著者 (2件):
Liu Hongwei
(Institute of Materials Research and Engineering, A*STAR, 2 Fusionopolis Way, Innovis, #08-03, Singapore 138634, Singapore)
,
Ke Lin
(Institute of Materials Research and Engineering, A*STAR, 2 Fusionopolis Way, Innovis, #08-03, Singapore 138634, Singapore)
資料名:
Optics & Laser Technology
(Optics & Laser Technology)
巻:
94
ページ:
240-243
発行年:
2017年
JST資料番号:
D0245B
ISSN:
0030-3992
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)