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文献
J-GLOBAL ID：201702225814178457
整理番号：17A1545015
ZTC状態下でのバルクとFDSOIデバイスにおける重粒子線の生物効果評価【Powered by NICT】
Evaluation of heavy-ion impact in bulk and FDSOI devices under ZTC condition
Calienes W.E.
(Instituto de Informatica, PGMicro/PPGC, Universidade Federal do Rio Grande do Sul, Porto Alegre, RS, Brazil)
,
de Aguiar Y.Q.
(Instituto de Informatica, PGMicro/PPGC, Universidade Federal do Rio Grande do Sul, Porto Alegre, RS, Brazil)
,
Meinhardt C.
(Centro de Ciencias Computacionais, PPGComp, Universidade Federal do Rio Grande, Rio Grande, RS, Brazil)
,
Vladimirescu A.
(Institut Superieur d’Electronique de Paris, Microelectronics Laboratory, Paris, France)
,
Reis R.
(Instituto de Informatica, PGMicro/PPGC, Universidade Federal do Rio Grande do Sul, Porto Alegre, RS, Brazil)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 76-77 ページ： 655-659 発行年： 2017年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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