文献
J-GLOBAL ID:201702225879675655
整理番号:17A1391619
状態監視と残存耐用年数予測のための分解シグナルの多相モデリング【Powered by NICT】
Multiple-Phase Modeling of Degradation Signal for Condition Monitoring and Remaining Useful Life Prediction
著者 (3件):
Wen Yuxin
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Texas at El Paso, El Paso, TX, USA)
,
Wu Jianguo
(Department of Industrial, Manufacturing and Systems Engineering, and Department of Electrical and Computer Engineering, University of Texas at El Paso, El Paso, TX, USA)
,
Yuan Yuan
(IBM Research, Singapore)
資料名:
IEEE Transactions on Reliability
(IEEE Transactions on Reliability)
巻:
66
号:
3
ページ:
924-938
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0448A
ISSN:
0018-9529
CODEN:
IERQAD
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)