文献
J-GLOBAL ID:201702225895667875
整理番号:17A0322320
集束イオンビーム(FIB)トモグラフィーによるAA7075-T651におけるナノスケール析出物の3次元微細構造のキャラクタリゼーション【Powered by NICT】
Three dimensional microstructural characterization of nanoscale precipitates in AA7075-T651 by focused ion beam (FIB) tomography
著者 (4件):
Singh Sudhanshu S.
(Materials Science and Engineering, Arizona State University, Tempe, AZ 85287-6106, USA)
,
Loza Jose J.
(Materials Science and Engineering, Arizona State University, Tempe, AZ 85287-6106, USA)
,
Merkle Arno P.
(Carl Zeiss X-ray Microscopy, Inc., Pleasanton, CA, USA)
,
Chawla Nikhilesh
(Materials Science and Engineering, Arizona State University, Tempe, AZ 85287-6106, USA)
資料名:
Materials Characterization
(Materials Characterization)
巻:
118
ページ:
102-111
発行年:
2016年
JST資料番号:
D0448C
ISSN:
1044-5803
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)