文献
J-GLOBAL ID:201702226344918895
整理番号:17A0056313
超解像妥当性測度による選択的アップスケーリング法【Powered by NICT】
A selective upscaling method via super-resolution validity measure
著者 (3件):
Choi Seokeon
(School of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Repubic of Korea)
,
Kim Jonghee
(School of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Repubic of Korea)
,
Kim Changick
(School of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Repubic of Korea)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
ICCE-Asia
ページ:
1-4
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)