文献
J-GLOBAL ID:201702226425145530
整理番号:17A0463097
マスクアライナ応用のためのe-ビームリソグラフィーによる先端フォトマスク作製
Advanced photomask fabrication by e-beam lithography for mask aligner applications
著者 (5件):
WEICHELT T.
(Friedrich Schiller Univ. Jena, Jena, DEU)
,
BOURGIN Y.
(Friedrich Schiller Univ. Jena, Jena, DEU)
,
BANASCH M.
(Vistec Electron Beam GmbH, Jena, DEU)
,
ZEITNER U. D.
(Friedrich Schiller Univ. Jena, Jena, DEU)
,
ZEITNER U. D.
(Fraunhofer Inst. Applied Optics and Precision Engineering, Jena, DEU)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
10032
ページ:
1003204.1-1003204.5
発行年:
2016年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)