文献
J-GLOBAL ID:201702226498974123
整理番号:17A1651111
SRAMベースのFPGAのための多重SEUの高速故障注入プラットフォーム【Powered by NICT】
A fast fault injection platform of multiple SEUs for SRAM-based FPGAs
著者 (6件):
Zhang Rongsheng
(Microelectronics Center, Harbin Institute of Technology, Harbin, China)
,
Xiao Liyi
(Microelectronics Center, Harbin Institute of Technology, Harbin, China)
,
Li Jie
(Microelectronics Center, Harbin Institute of Technology, Harbin, China)
,
Cao Xuebing
(Microelectronics Center, Harbin Institute of Technology, Harbin, China)
,
Qi Chunhua
(Microelectronics Center, Harbin Institute of Technology, Harbin, China)
,
Wang Mingjiang
(Harbin Institute of Technology, Shenzhen, Shenzhen, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
PHM (Harbin)
ページ:
1-5
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)