文献
J-GLOBAL ID:201702226955575313
整理番号:17A0848307
選択的に修飾された量子ドットを用いた,ジュール加熱されたシリコンのマイクロ/ナノワイヤの温度測定
Temperature measurement of Joule heated silicon micro/nanowires using selectively decorated quantum dots
著者 (6件):
YUN Jeonghoon
(Korea Advanced Inst. of Sci. and Technol. (KAIST), Daejeon, KOR)
,
AHN Jae-Hyuk
(Kwangwoon Univ., Seoul, KOR)
,
LEE Bong Jae
(Korea Advanced Inst. of Sci. and Technol. (KAIST), Daejeon, KOR)
,
MOON Dong-Il
(Korea Advanced Inst. of Sci. and Technol. (KAIST), Daejeon, KOR)
,
CHOI Yang-Kyu
(Korea Advanced Inst. of Sci. and Technol. (KAIST), Daejeon, KOR)
,
PARK Inkyu
(Korea Advanced Inst. of Sci. and Technol. (KAIST), Daejeon, KOR)
資料名:
Nanotechnology
(Nanotechnology)
巻:
27
号:
50
ページ:
505705,1-8
発行年:
2016年12月16日
JST資料番号:
W0108A
ISSN:
0957-4484
CODEN:
NNOTER
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)