文献
J-GLOBAL ID:201702226997689201
整理番号:17A0329166
TSVとワイヤの熱的有効性に関する正確な計算法【Powered by NICT】
An accurate calculation method on thermal effectiveness of TSV and wire
著者 (3件):
Pi Yudan
(National Key Lab of Micro/Nano Fabrication Technology, Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing, China)
,
Wang Wei
(National Key Lab of Micro/Nano Fabrication Technology, Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing, China)
,
Jin Yufeng
(National Key Lab of Micro/Nano Fabrication Technology, Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
EPTC
ページ:
569-573
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)