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文献
J-GLOBAL ID：201702227050791112
整理番号：17A1642847
GeV領域ガンマ線ビームプロファイルモニタへのX線フラットパネルセンサの応用【Powered by NICT】
Application of an X-ray flat panel sensor to a GeV region gamma-ray beam profile monitor
Kanda Hiroki
(Graduate School of Science, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan)
,
Honda Kazuhisa
(Graduate School of Science, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan)
,
Ishikawa Takatsugu
(Research Center for Electron Photon Science, Tohoku University, Sendai 982-0826, Japan)
,
Kaneta Masashi
(Graduate School of Science, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan)
,
Maeda Kazushige
(Graduate School of Science, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan)
,
Miyabe Manabu
(Research Center for Electron Photon Science, Tohoku University, Sendai 982-0826, Japan)
,
Muroi Yuta
(Graduate School of Science, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan)
,
Nakai Wataru
(Department of Physics, University of Tokyo, Tokyo 113-0033, Japan)
,
Nakamura Satoshi N.
(Graduate School of Science, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan)
,
Ninomiya Aki
(Graduate School of Science, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan)
,
Ozawa Yuki Obara Kyoichiro
(Institute of Particle and Nuclear Studies, High Energy Accelerator Research Organization (KEK), Tsukuba 305-0801, Japan)
,
Ozeki Keiichi
(Graduate School of Science, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan)
,
Sasaki Takayuki
(Graduate School of Science, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan)
,
Shimizu Hajime
(Research Center for Electron Photon Science, Tohoku University, Sendai 982-0826, Japan)
,
Tokiyasu Atsushi O.
(Research Center for Electron Photon Science, Tohoku University, Sendai 982-0826, Japan)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： NSS/MIC/RTSD ページ： 1-3 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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