文献
J-GLOBAL ID:201702227313760344
整理番号:17A0412022
ナノスケールSTT-MRAMのための読取障害問題と設計技術【Powered by NICT】
Read disturbance issue and design techniques for nanoscale STT-MRAM
著者 (6件):
Ran Yi
(Spintronics Interdisciplinary Center, Beihang University, Beijing, 100191, China)
,
Kang Wang
(Spintronics Interdisciplinary Center, Beihang University, Beijing, 100191, China)
,
Zhang Youguang
(Spintronics Interdisciplinary Center, Beihang University, Beijing, 100191, China)
,
Klein Jacques-Olivier
(Institut D’Electronique Fondamentale (IEF), Univ. Paris-Sud, CNRS, Orsay, 91405, France)
,
Zhao Weisheng
(Spintronics Interdisciplinary Center, Beihang University, Beijing, 100191, China)
,
Zhao Weisheng
(Institut D’Electronique Fondamentale (IEF), Univ. Paris-Sud, CNRS, Orsay, 91405, France)
資料名:
Journal of Systems Architecture
(Journal of Systems Architecture)
巻:
71
ページ:
2-11
発行年:
2016年
JST資料番号:
A0883A
ISSN:
1383-7621
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)