文献
J-GLOBAL ID:201702227501638326
整理番号:17A1633537
バイアスターゲット上のイオンビームモニタリング【Powered by NICT】
Ion Beam Monitoring Over a Biased Target
著者 (4件):
Lopes J.
(GIAAPP/ISEL, Instituto Superior de Engenharia de Lisbon, Lisbon, Portugal)
,
Rocha J.
(Instituto de Plasmas e Fusao Nuclear of Instituto Superior Tecnico, Universidade de Lisbon, Lisbon, Portugal)
,
Catarino N.
(Instituto de Plasmas e Fusao Nuclear of Instituto Superior Tecnico, Universidade de Lisbon, Lisbon, Portugal)
,
Peres M.
(Instituto de Plasmas e Fusao Nuclear of Instituto Superior Tecnico, Universidade de Lisbon, Lisbon, Portugal)
資料名:
IEEE Transactions on Plasma Science
(IEEE Transactions on Plasma Science)
巻:
45
号:
10
ページ:
2767-2772
発行年:
2017年
JST資料番号:
D0036B
ISSN:
0093-3813
CODEN:
ITPSBD
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)