文献
J-GLOBAL ID:201702227509164252
整理番号:17A0145868
PSpiceモデルに基づく830nmレーザダイオードの劣化解析【Powered by NICT】
Degradation analysis of 830nm laser diodes based on PSpice model
著者 (4件):
Wang Guishan
(Science and Technology on Integrated Logistics Support Laboratory)
,
Qiu Jing
(Science and Technology on Integrated Logistics Support Laboratory)
,
Yang Peng
(Science and Technology on Integrated Logistics Support Laboratory)
,
Liu Guanjun
(Science and Technology on Integrated Logistics Support Laboratory)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
PHM (Chengdu)
ページ:
1-6
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)