文献
J-GLOBAL ID:201702227545067601
整理番号:17A0605386
透過型走査電子顕微鏡法で明らかにしたNa2Ti2Sb2Oにおける格子歪および電荷密度波
Lattice distortion and charge density wave in Na2Ti2Sb2O revealed by scanning tunnelling microscopy
著者 (14件):
REN M. Q.
(Fudan Univ., Shanghai, CHN)
,
YAN Y. J.
(Fudan Univ., Shanghai, CHN)
,
JIANG J.
(Fudan Univ., Shanghai, CHN)
,
TAN S. Y.
(Fudan Univ., Shanghai, CHN)
,
MIAO J.
(Fudan Univ., Shanghai, CHN)
,
CHEN C.
(Fudan Univ., Shanghai, CHN)
,
SONG Y.
(Rice Univ., TX, USA)
,
ZHANG C. L.
(Rice Univ., TX, USA)
,
DAI P. C.
(Rice Univ., TX, USA)
,
XIE B. P.
(Fudan Univ., Shanghai, CHN)
,
ZHANG T.
(Fudan Univ., Shanghai, CHN)
,
ZHANG T.
(Collaborative Innovation Center of Advanced Microstructures, Nanjing, CHN)
,
FENG D. L.
(Fudan Univ., Shanghai, CHN)
,
FENG D. L.
(Collaborative Innovation Center of Advanced Microstructures, Nanjing, CHN)
資料名:
Philosophical Magazine
(Philosophical Magazine)
巻:
97
号:
7-12
ページ:
527-534
発行年:
2017年03月
JST資料番号:
E0753C
ISSN:
1478-6435
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)