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文献
J-GLOBAL ID:201702227779661866   整理番号:17A1396192

RTレベル対マイクロアーキテクチャ・レベル信頼性評価:ARM(R)皮質(R)-A9CPUの事例研究【Powered by NICT】

RT Level vs. Microarchitecture-Level Reliability Assessment: Case Study on ARM(R) Cortex(R)-A9 CPU
著者 (7件):
Chatzidimitriou Athanasios
Kaliorakis Manolis
Gizopoulos Dimitris
Iacaruso Maurizio
Pipponzi Mauro
Mariani Riccardo
Carlo Stefano Di

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2017  号: DSN-W  ページ: 117-120  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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