文献
J-GLOBAL ID:201702227992519527
整理番号:17A1633051
数層van der Waals半導体の垂直誘電スクリーニング【Powered by NICT】
Vertical dielectric screening of few-layer van der Waals semiconductors
著者 (4件):
Koo Jahyun
(Department of Physics, Washington University in St. Louis, St. Louis, Missouri 63136, USA. lyang@physics.wustl.edu)
,
Gao Shiyuan
,
Lee Hoonkyung
,
Yang Li
資料名:
Nanoscale
(Nanoscale)
巻:
9
号:
38
ページ:
14540-14547
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2323A
ISSN:
2040-3364
CODEN:
NANOHL
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)