文献
J-GLOBAL ID:201702228134502943
整理番号:17A1420507
増強アンサンブル経験的モード分解とランダム減衰技術を用いた故障検出戦略【Powered by NICT】
A fault detection strategy using the enhancement ensemble empirical mode decomposition and random decrement technique
著者 (2件):
Xiang Jiawei
(College of Mechanical and Electrical Engineering, Wenzhou University, Wenzhou, PR China)
,
Zhong Yongteng
(College of Mechanical and Electrical Engineering, Wenzhou University, Wenzhou, PR China)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
75
ページ:
317-326
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)