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文献
J-GLOBAL ID:201702228633127502   整理番号:17A1311573

内部リードの破壊的結合引張試験の故障の原因と原因の解析【JST・京大機械翻訳】

Failure Category and Failure Cause Analysis on Destructive Internal Bond Pull Test
著者 (3件):
Yuan Yiling
(重慶大学光電工程学院,重慶,400044)
Li Xiaohong
(中国電子科技集団公司第二十四研究所,重慶,400060)
Zhang Liwei
(中国電子科技集団公司第二十四研究所,重慶,400060)

資料名:
Huanjing Jishu  (Huanjing Jishu)

巻: 35  号:ページ: 59-62,69  発行年: 2017年 
JST資料番号: C3765A  ISSN: 1004-7204  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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