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J-GLOBAL ID：201702228663915596 整理番号：17A1256745

工業環境における試験実行履歴を用いた欠陥予測【Powered by NICT】

Predicting Defects Using Test Execution Logs in an Industrial Setting

著者 (5件)：

Tosun Ayse

Turkgulu Ozgur

Razon Dogan

Aydemir Hamza Yusuf

Gureller Arda

資料名：

IEEE Conference Proceedings (IEEE Conference Proceedings)

巻： 2017 号： ICSE-C ページ： 294-296 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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