文献
J-GLOBAL ID:201702228756020573
整理番号:17A1506887
計量の型はソフトウェア欠陥予測におけるクラス不均衡を扱うための有用である【Powered by NICT】
Which type of metrics are useful to deal with class imbalance in software defect prediction?
著者 (1件):
OEztuerk Muhammed Maruf
(Department of Computer Engineering, Engineering Faculty, Suleyman Demirel University, Isparta, Turkey)
資料名:
Information and Software Technology
(Information and Software Technology)
巻:
92
ページ:
17-29
発行年:
2017年
JST資料番号:
B0445B
ISSN:
0950-5849
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)