文献
J-GLOBAL ID:201702228807794819
整理番号:17A0966011
MVP ECC:メモリ信頼性に対する製造プロセス変動を意識した不等保護ECC【Powered by NICT】
MVP ECC : Manufacturing process variation aware unequal protection ECC for memory reliability
著者 (2件):
Lee Seungyeob
(Department of Semiconductor and Display Engineering, Sungkyunkwan University, Suwon, Korea)
,
Yang Joon-Sung
(Department of Semiconductor Systems Engineering, Sungkyunkwan University, Suwon, Korea)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
DATE
ページ:
846-851
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)