文献
J-GLOBAL ID:201702228896757817
整理番号:17A0666060
GaNH EMTにおける自己加熱の特性化のためのイソ捕獲測定法【Powered by NICT】
Iso-Trapping Measurement Technique for Characterization of Self-Heating in a GaN HEMT
著者 (4件):
Albahrani Sayed Ali
(Department of Engineering, Macquarie University, Sydney, NSW, Australia)
,
Parker Anthony
(Macquarie University, Sydney, NSW, Australia.)
,
Heimlich Michael
(Macquarie University, Sydney, NSW, Australia.)
,
Schwitter Bryan
(Macquarie University, Sydney, NSW, Australia.)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
64
号:
1
ページ:
102-108
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)